SERVOPRO DF高纯
DF-749水分分析仪检测超高纯(UHP)气体的纯度
DF-749采用Servomex可调谐二极管激光吸收光谱(TDLAS)传感器，可为超高纯(UHP)电子级气体在多种背景气体中提供痕量/超痕量水分测量。
DF-749采用Servomex可调谐二极管激光吸收光谱(TDLAS)传感器，可为超高纯(UHP)电子级气体在多种背景气体中提供痕量/超痕量水分测量。
DF-749在各种背景气体中提供痕量和超痕量水分污染物测量，包括氮、氢、氦、氩和氧。
理想的超高纯（UHP）气体的质量检查，在LCD和LED制造工艺中至关重要，DF-749紧凑轻便的设计使其易于携带，便于推车或移动应用。强大的硬件/软件设计几乎消除了通常与超高纯（UHP）气体检查相关的干燥时间。
DF-749采用行业先进的TDL传感技术，可实现超灵敏的低检测限(LDL) 250ppt，提供超可靠的基线测量和快速的响应速度。
现代LCD和LED制造工艺需要对高纯度电子级气体中的水分污染物进行超痕量质量测量。在这种苛刻的应用中，用户需要一款能够在多种背景气体中提供高精度和超低检测限的水分分析仪。无论您有什么样的应用需求，您都需要一款高性能的水分分析仪。我们认为你们不应该妥协。
DF-749 NanoTrace可满足您的应用需求，不仅具有稳定的微量级和超微量级测量性能，还具有灵活的便携性。其采用先进的TDL传感技术，具有零漂移，快速响应，高稳定性和精度，以及抗干扰能力强等特点， DF-749 NanoTrace还具有低至250ppt的低检测限（LDL），并且单台设备即可监测多种背景气体中的水分，可提供精度高且适用性强的监测解决方案。另外，紧凑轻便的设计使其能轻松在端口之间来回移动应用，非常适合固定应用或基于推车的移动应用。
成熟的传感技术和高端功能可降低生命周期内的总持有成本；工厂标定能加快并简化安装；数据存档则让存储和调用标定、系统错误和测量数据的变得简单。
TDL传感器的高稳定性和零漂移特点可延长标定间隔并更大限度减少日常维护需求，从而能在产品较长的生命周期内实现大幅节省。
通过Servomex 您能很快找到满足您应用需求的产品
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们的专家团队将帮助您选择正确的产品包，确保您拥有配件和支持，以使您的分析仪获得优异性能。
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稳健和超可靠的DF-749可提供灵活的配置选项和0-20ppm的广泛探测范围。
通过将1%的激光输出定向到含有水蒸气的参考电池中，我们消除了激光输出偏离水分峰的可能性。通过连续扫描整个水分峰曲线，我们消除了源/探测器的变化和用比例测量法测量的任何镜面反射损失。
通过多次传递的“Herriott Cell”，我们有效地将吸收路径延长50M以增加信号，并提供250ppt的低检测限(LDL)。
紧凑轻便的设计，DF-749可轻松的在端口之间来回移动，是机架和推车移动应用的理想选择。经过试验和测试的指导用户界面(GUI)使操作人员在一代到另一代的培训门槛较低。
DF-749采用TDLAS传感器，对超高纯（UHP）气体中的水分污染物进行高稳定性的痕量和超痕量测量。
| Gas | 测量 |
|---|---|
| 水蒸气（水分） (H₂O) | ppb, ppt |
Technologies
483mm (19”) Wide x 266mm (10.5”) High x 608mm (23.9”) Deep
31.8kg (70lbs)
如果您想了解更详细的规格，您需要下载我们的技术数据表，其中包括技术、性能、操作环境、样品条件和合规信息，以及技术图纸和顶级福利和应用。”
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DF-749可测量各种背景气体中超痕量水分，是LCD和LED制造工艺中超高纯（UHP）气体监测的理想选择。
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