DF高纯
DF-750 ULTRA是半导体行业水分分析的优选
DF-750 ULTRA是一种痕量/超痕量分析仪，经过优化，可对300毫米半导体工厂中使用的超高纯（UHP）气体进行行业高效的水分测量。
DF-750 ULTRA是一种痕量/超痕量分析仪，经过优化，可对300毫米半导体工厂中使用的超高纯（UHP）气体进行行业高效的水分测量。
DF-750 ULTRA专为在各种UHP气体中进行痕量和超痕量水分测量而设计，针对300mm半导体工厂进行了优化。它测量作为电子级气体氮气，氢气，氦气，氩气和氧气中污染物的水分。
可调谐二极管激光（TDL）传感技术可提供低至55 ppb（ppt）的检测下限（LDL），从而确保DF-750 ULTRA稳定，高精度的测量满足半导体生产的精确监控需求。
坚固的DF-750 ULTRA对使用寿命的维护要求低，并且具有零漂移稳定性，从而大大延长了校准间隔。这种低拥有成本与优异的测量性能相结合，意味着DF-750 ULTRA是用于UHP气体质量检查的优质分析解决方案。
UHP电子气体的超痕量鉴定对于半导体制造至关重要。您需要水分分析仪
可以提供高稳定性的测量结果，并具有灵敏且一致的性能。准确而低的LDL是必需的，容易存储和调用数据/校准记录也是如此。无论您有什么要求，您都需要一种能够提高运行效率的水分分析仪。我们不相信你应该
必须妥协。
DF-750 ULTRA旨在满足全球半导体制造商所要求的优质的气体纯度标准。 DF-750 ULTRA利用先进的TDL传感技术，该技术安装在坚固且有弹性的Herriot Cell中，可避免水分与光学传感组件接触。结果是分析仪提供了超灵敏的，低至55ppt检测下限，非常适合在各种UHP电子等级中检查微量水分
气体，包括N2，H2，He，Ar和O2。 DF-750 ULTRA拥有记录的数据，并可以通过灵活的存储和调用功能随时获得，是300mm半导体工厂中UHP气体监测的完整解决方案。
如果您需要构建一套气体分析系统，仕富梅专家随时可以提供帮助。我们会提供项目设计、构建和安装等方面的全方位支持，通过自始至终的密切协作和项目管理，确保提供的方案满足您的应用需求。
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我们的专家团队会帮助您选择合适的产品套件，包括相关配件和支持，确保为您提供更合适的分析仪
我们将在全球先进的工程中心装配好分析仪，并快速交付
With low maintenance requirements and zero-drift stability, the DF-750 ULTRA provides high-specification measurement performance for a low cost of ownership.
校准，系统错误和测量数据有助于归档DF-750 ULTRA的运行历史记录。
DF-750 ULTRA具有极低的55ppt LDL，可提供半导体生产行业所需的灵敏度和精度。
通过更大程度地减少与光学组件的水接触，DF-750 ULTRA的可重复基线测量不受镜面反射率损失的影响，从而确保了准确性和稳定性。
非凡的性能
使用业界先进的高稳定性可调谐二极管激光器（TDL）轨迹感应，零漂移
耐气室污染分析：DF-750 ULTRA符合规范，信号损失高达90％
低至55ppt检测下限
由仕富梅（Servomex）制造-超过60年的开拓性气体分析经验
现场使用的数千个单位
灵活
广泛的检测范围：0-20ppm
存储和调用功能：校准，系统错误和测量数据有助于归档操作历史记录
可通过前面板或数字通讯选项进行操作
易于使用
通过使用无损耗，低漂移潜力的TDL传感技术，简化了日常维护要求
高可靠性-可重复进行的基线测量不受镜面反射率损失的影响
拥有成本低
坚固的传感器结构降低了维护要求
零漂移的缺失延长了校准间隔
符合基准
IEC 61010-1
II类过电压，污染等级2
欧盟EMC指令
欧盟低压指令
DF-750 ULTRA采用业界先进的无损耗，高稳定性，零漂移的TDL痕量感测技术，可测量电子级气体中痕量和超痕量水平的水分。
| Gas | 测量 |
|---|---|
| 水蒸气（水分） (H₂O) | ppm, ppt, ppb |
Technologies
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<31.8公斤（70磅）
“要获得深入的规范，您将需要下载我们的技术数据表，其中包括有关技术，性能，操作环境，样品条件和合规性的信息，以及技术图纸和顶级收益和应用。”
我们已经编译了全面的DF-750 ULTRA资源包，您可以一次下载所有资源。立即下载以了解有关产品功能，优势和技术规格的更多信息。
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DF-750 ULTRA设计用于测量UHP气体中的水分，是半导体行业应用的优选。
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