DF-730设计用于分析半导体制造过程中电子工业级HCl气体中的水分污染物，是质量控制和泄漏检测应用的理想之选。
仕富梅业内先进的可调谐激光二极管 (TDL) 传感技术和耐用的Herriott Cell测量池可以实现十亿分之1 (ppb) 到百万分之10 (ppm) 之间的宽测量范围。
通过确保水分与光学器件之间尽可能少的接触，DF-730保证了性能不受镜面反射率损耗的影响，从而确保稳定、准确和一致的快速响应。
DF-730先进的TDL传感技术可实现零漂移，从而有助于延长维护周期，减少标定需求
DF-730不仅具备超稳定的高性能监测能力，还能大幅节省运行成本，是半导体制造应用中理想的纯度监测解决方案。
當您需要對電子級HCI氣體進行質量控制時，您需要一種水分分析儀，該分析儀能夠提供一致，可靠的測量結果並具有靈敏的性能。靈活的監視範圍是必不可少的，傳感技術也必須能夠有效地長時間運行-即使信號明顯丟失。無論您的應用程序需要什麼，您都需要一種水分分析儀，它可以降低您的日常成本並提高運營效率。在Servomex，我們認為您不必妥協。
DF-730專為滿足您的應用需求而設計，可滿足半導體製造商所要求的高質量和高性能標準。該設備採用高穩定性的TDL感應和堅固的Herriot電池，有助於更大程度地減少與光學組件的水接觸。這消除了鏡面反射率問題的損失，並使DF-730能夠進行可靠的基線測量。 1ppb-10ppm的寬測量範圍確保了在大多數工藝條件下的靈活性能。先進的性能使DF-730成為滿足您的應用需求的理想監視解決方案。
DF-730不僅具有強大的監控功能，而且還具有降低日常成本的能力。專利的先進TDL傳感技術的使用意味著零漂移，減少了校準需求以及更小的日常維護。 DF-730經過精心設計，具有彈性，高性能設計，可為用戶提供廣泛的使用壽命，而擁有成本卻很低。
如果您需要构建一套气体分析系统，仕富梅专家随时可以提供帮助。我们会和您密切协作，提供自始至终的项目管理支持，帮助您构建理想的解决方案。欢迎和我们联系以了解更多详情。
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高性能DF-730分析仪可提供超级稳定的监测性能并大幅节约成本。
通过尽可能减少水分与光学器件的接触，DF-730的可重复基准测量精度不受镜面反射率损耗的影响，从而可确保测量精度和稳定性。
DF-730的分析不受气体测量池浓度的影响，因此即使在信号损失高达90%的情况下也能继续正常工作。
超稳定TDL传感技术意味着DF-730无需频繁维护，而且维护简单，不需要耗材。
非凡的性能
不受氣室濃度影響的分析：DF-730符合規範，信號損失高達90％
1ppb下檢測限（LDL）
由仕富梅（Servomex）製造-超過60年的經驗，在現場使用了數千台設備
靈活
可調諧激光二極管（TDL）感應可提供高穩定性，並減少與光學元件的水分接觸
廣泛的檢測範圍：1ppb – 10ppm
可通過前面板或數字通訊選項進行操作
易於使用
簡化的日常維護要求，無需消耗品
高可靠性;不受鏡子反射率損失影響的可重複基線測量
擁有成本低
通過使用超穩定的TDL傳感技術來延長維護週期
零漂移降低了校準要求
基準合規
IEC 61010-1
II類過電壓，污染等級2
歐盟EMC指令
歐盟低壓指令
DF-730将仕富梅先进的TDL传感技术与耐用的Herriot Cell测量池集于一身，可监测HCl气体中的微量级和超微量级水分杂质。
| Gas | 测量 |
|---|---|
| 水蒸气（水分） (H₂O) | ppm, ppb |
Technologies
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465mm (12.1″) Wide x 190 (7.9″) High x 253mm (9.9″) Deep
<31.8公斤（70磅）
“要获得深入的规范，您将需要下载我们的技术数据表，其中包括有关技术，性能，操作环境，样品条件和合规性的信息，以及技术图纸和顶级收益和应用。”
“只需简单下载即可获取所需的DF-730的所有信息。我们已经收集了必不可少的资源，以确保您了解此灵敏的水分测定仪的所有功能和优势。”
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DF-730设计用于分析半导体制造厂所用电子级HCl气体中的污染物中的湿气，是质量控制和泄漏检测应用的理想选择。
半导体工厂中HCl气体的质量控制
